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面向半導(dǎo)體腐蝕環(huán)境：Diavac TRP-31皮拉尼真空計(jì)設(shè)計(jì)亮點(diǎn)

發(fā)布時(shí)間： 2025-11-11　　點(diǎn)擊次數(shù)： 54次

在半導(dǎo)體刻蝕、CVD、離子注入等工藝段，真空計(jì)不僅要面對(duì) HF、HCl、Cl?、BCl? 等強(qiáng)腐蝕性氣體，還需在 5×10?2 Pa ～大氣壓的寬范圍內(nèi)保持長(zhǎng)期穩(wěn)定。Diavac 最新一代 TRP-31 皮拉尼真空計(jì)針對(duì)上述“腐蝕 + 寬壓"雙重挑戰(zhàn)，在傳感器結(jié)構(gòu)、材料選型、溫度補(bǔ)償與智能診斷四個(gè)維度做出突破性設(shè)計(jì)，成為 2025 年本土 12 英寸 Fab 擴(kuò)產(chǎn)項(xiàng)目中國(guó)產(chǎn)替代率最高的皮拉尼單元。
一、全 PFA 隔離測(cè)量頭：把腐蝕介質(zhì)與金屬燈絲隔開(kāi)
傳統(tǒng)皮拉尼傳感器將鎢或鉑燈絲直接暴露于真空側(cè)，腐蝕氣體可在高溫下與燈絲形成脆性氯化物，導(dǎo)致 3～6 個(gè)月就斷絲。TRP-31 采用“全 PFA 套筒 + 微孔擴(kuò)散"方案：
測(cè)量腔由 1 mm 厚高純 PFA 一體注塑，內(nèi)壁做 0.2 µm 鏡面拋光，減少腐蝕性氣體吸附；
燈絲被封裝在 ∅4 mm 的 PFA 微腔內(nèi)，通過(guò) 30 µm 激光鉆孔與主真空連通，既保證氣體導(dǎo)熱通路，又使腐蝕粒子在到達(dá)燈絲前被壁面“冷凝捕獲"；
套筒與不銹鋼法蘭之間用全氟彈性體 O-ring 二次密封，實(shí)現(xiàn)“零金屬"暴露。
實(shí)測(cè)在 BCl?/Cl? 刻蝕尾氣中連續(xù)運(yùn)行 8 個(gè)月，燈絲質(zhì)量損失 <1 µg，漂移 <2 %。
二、雙燈絲 + 脈沖切換：壽命翻倍、無(wú)需停機(jī)維護(hù)
TRP-31 內(nèi)部并聯(lián)兩根相同規(guī)格鉑銠燈絲，由 MCU 以 0.5 Hz 脈沖交替工作。當(dāng)其中一根出現(xiàn)阻值異常（>±5 %）時(shí)，系統(tǒng)自動(dòng)切換至另一根并上報(bào)預(yù)警。
• 單根燈絲實(shí)際占空比 <50 %，表面氯化速率降低 60 %；
• 切換過(guò)程 <20 ms，輸出信號(hào)無(wú)中斷，避免工藝腔體因真空跳變而宕機(jī)；
• 用戶可在維護(hù)窗口期離線更換故障燈絲，實(shí)現(xiàn)在線“零停機(jī)"。
統(tǒng)計(jì) 2024 H2 三家 Fab 數(shù)據(jù)，平均維護(hù)間隔從 6 個(gè)月延長(zhǎng)至 14 個(gè)月。
三、數(shù)字溫度補(bǔ)償引擎：把“腐蝕熱擾動(dòng)"吃掉
腐蝕性氣體往往伴隨放熱或吸熱反應(yīng)，導(dǎo)致傳感器殼體溫度瞬變。TRP-31 在 PFA 套筒外壁嵌入 0.3 mm NTC 陣列（4 點(diǎn)），MCU 以 64 Hz 采樣并建立“殼溫-燈絲-導(dǎo)熱"三維模型，實(shí)時(shí)修正壓力讀數(shù)。
• 補(bǔ)償后 -10 ℃～+60 ℃ 范圍內(nèi)的滿量程誤差 ≤±3 %，優(yōu)于傳統(tǒng)模擬補(bǔ)償?shù)?±15 %；
• 用戶可在 GUI 自定義氣體曲線（N?、Ar、CF?、HCl 等 8 組），切換工藝配方時(shí)一鍵調(diào)用，無(wú)需重新校準(zhǔn)。
四、Modbus-RS485 + 自診斷：讓腐蝕失效“可見(jiàn)"
TRP-31 放棄 0–10 V 模擬輸出，全系標(biāo)配隔離型 RS485，支持 Modbus-RTU，可直接與 Etcher 上位機(jī)對(duì)接，實(shí)現(xiàn)：
實(shí)時(shí)輸出燈絲阻值、殼溫、腐蝕計(jì)數(shù)器（可重置），方便 FDC 做趨勢(shì)預(yù)警；
內(nèi)置“腐蝕指數(shù)"算法，根據(jù)阻值漂移速率自動(dòng)判斷傳感器剩余壽命，并在 30 % 壽命時(shí)觸發(fā)郵件；
支持遠(yuǎn)程空氣校準(zhǔn)（One-touch Auto Zero），潔凈腔體破真空后 30 s 完成，無(wú)需工程師進(jìn)場(chǎng)。
結(jié)語(yǔ)
從“PFA 隔離"到“雙燈絲脈沖"，再到“數(shù)字補(bǔ)償 + 自診斷"，TRP-31 把皮拉尼真空計(jì)在半導(dǎo)體腐蝕場(chǎng)景中的可靠性、維護(hù)性與數(shù)據(jù)可視性推到新高度。隨著 3 nm 以下節(jié)點(diǎn)及金屬刻蝕比例持續(xù)提升，TRP-31 及其后續(xù)型號(hào)有望成為國(guó)產(chǎn)真空量測(cè)替代鏈中的關(guān)鍵一環(huán)，為 Fab 提供更高層級(jí)的工藝穩(wěn)定性與經(jīng)濟(jì)性保障。

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